1.類型檢測

  晶體管的類型可用萬用表歐姆檔進(jìn)行檢測。在檢測時，將萬用表撥至Rx100Ω或RxIkΩ檔，測量晶體管任意兩腳之間的電阻，當(dāng)測量出現(xiàn)一次阻值小時，黑表筆接的為P極，紅表筆接的為N極，如圖5-48a所示;然后黑表筆不動(即讓黑表筆仍接P極)，將紅表筆接到另外一-個極，有兩種可能:若測得阻值很大，紅表筆接的極一定是P極，該晶體管為PNP型，紅表筆先前接的極為基極，如圖5-48b所示;若測得阻值小，則紅表筆接的為N極，則該晶體管為NPN型黑表筆所接為基極。

  2.電極檢測

  晶體管的三個電極在使用時不能混用。由于在檢測類型時已經(jīng)找出基極，故下面介紹如何用萬用表歐姆檔檢測出發(fā)射極和集電極。

  (1)NPN型晶體管集電極和發(fā)射極的判別

  NPN型晶體管集電極和發(fā)射極的判別如圖5-49所示。

  將萬用表置于RxIk2或Rx1002檔，黑表筆接基極以外任意一個極，再用手接觸該極與基極(手相當(dāng)于一個電阻，即在該極與基極之間接一個電阻)，紅表筆接另外一個極，測量并記下阻值的大小該過程如圖5-49a所示;然后紅、黑表筆互換，手再捏住基極與對換后黑表筆所接的極，測量并記下阻值大小，該過程如圖5-49b所示。兩次測量會出現(xiàn)阻值一大一小，以阻值小的那次為準(zhǔn)，如圖5-49a所示，黑表筆接的為集電極，紅表筆接的為發(fā)射極。

  注意:如果兩次測量出來的阻值大小區(qū)別不明顯，可先將手沾點水，讓手的電阻減小，再用手接觸兩個電極進(jìn)行測量。

  (2)PNP型晶體管集電極和發(fā)射極的判別

  PNP型晶體管集電極和發(fā)射極的判別如圖5-50所示。

  將萬用表置于Rx1k2或Rx1002檔，紅表筆接基極以外任意一個極，再用手接觸該極與基極，黑表筆接觸余下的一個電極，測量并記下阻值的大小，該過程如圖5-50a所示;然后紅、黑表筆互換，手再接觸基極與對換后紅表筆所接的極，測量并記下阻值大小，該過程如圖5-50b所示。兩次測量會出現(xiàn)阻值一大一小，以阻值小的那次為準(zhǔn)，紅表筆接的為集電極，黑表筆接的為發(fā)射極。

  (3)利用萬用表的晶體管放大倍數(shù)檔來判別發(fā)射極和集電極

  如果萬用表有晶體管放大倍數(shù)檔，可利用該檔判別晶體管的電極，使用這種方法一般應(yīng)在已檢測出品體管類型和基極時使用。利用萬用表的晶體管放大倍數(shù)檔來判別極性的測量過程如圖5-51所示。

  圖5-51 利用萬用表的晶體管放大倍數(shù)檔來判別發(fā)射極和集電極

  將萬用表撥至“hFE”檔(晶體管放大倍數(shù)測量檔)，再根據(jù)晶休管類型選擇相應(yīng)的插孔，并將基極插人基極插孔中，另外兩個極分別插人另外兩個插孔中，記下此時測得放大倍數(shù)值，如圖5-51a所示;然后讓晶體管的基極不動，將另外兩極互換插孔，觀察這次測得放大倍數(shù)，如圖5-51b所示，兩次測得的放大倍數(shù)會出現(xiàn)一大一小，以放大倍數(shù)大的那次為準(zhǔn)，如圖5-51b所示，c極插孔對應(yīng)的電極是集電極，e極插孔對應(yīng)的電極為發(fā)射極。

  3.好壞檢測

  (1)測量集電結(jié)和發(fā)射結(jié)的正、反向電阻

  晶體管內(nèi)部有兩個PN結(jié)，任意一個PN結(jié)損壞，品體管就不能使用，所以晶體管檢測先要測量兩個PN結(jié)是否正常。檢測時，萬用表撥至Rx1OOΩ或Rx1kΩ檔，測量PNP型或NPN型晶體管集電極和基極之間的正、反向電阻(即測量集電結(jié)的正、反向電阻)，然后再測量發(fā)射極與基極之間的正、反向電阻(即測量發(fā)射結(jié)的正、反向電阻)。正常時，集電結(jié)和發(fā)射結(jié)正向電阻都比較小(約為兒百歐至幾千歐)，反向電阻都很大(約為幾百千歐至無窮大)。

  (2)測量集電極與發(fā)射極之間的正、反向電阻

  對于PNP型晶體管，紅表筆接集電極，黑表筆接發(fā)射極測得為正向電阻，正常約為十幾千歐至幾百千歐(用Rx1kΩ檔測得)，互換表筆測得為反向電阻，與正向電阻阻值相近;對于NPN型晶體管，黑表筆接集電極，紅表筆接發(fā)射極，測得為正向電阻，互換表筆測得為反向電阻，正常時正、反向電阻阻值相近，約為幾百千歐至無窮大。如果晶體管任意一個PN結(jié)的正、反向電阻不正常，或發(fā)射極與集電極之間正、反向電阻不正常，說明品體管損壞。如發(fā)射結(jié)正、反向電陰阻值均為無窮大，說明發(fā)射結(jié)開路;集電極、發(fā)射極之間阻值為0，說明集電極與發(fā)射極之間擊穿短路。

  綜上所述，一個晶體管的好壞檢測需要進(jìn)行六次測量:其中測發(fā)射結(jié)正、反向電阻各一次(兩次)，集電結(jié)正、反向電阻各一次(兩次)和集電極與發(fā)射極之間的正、反向電阻各一次(兩次)。貝有這六次檢測都正常才能說明晶體管是正常的，只要有一次測量發(fā)現(xiàn)不正常，該品體管就不能使用。